上海绘吉电子科技有限公司主要代理欧、美、日及科学仪器、工业质检仪器及相关消耗品，专业涉及高校、新能源、钢铁行业、科研研究及轻工化工、在国内特别是华东地区具有广泛的客户基础和良好的商业信誉。经过几年的发展，绘吉公司已经在同行业中确立了多方面的好的地位，无论在公司规模、人员素质、经营品种、销售能力和售后服务等各方面获得了同行及用户的广泛认可。 上海绘吉电子科技有限公司从事分析类仪器（荧光光谱仪，质谱仪，粒度仪，真空系列等分析类设备），电池材料制备设备，实验室仪器，理化分析类仪器，微生物仪器，生理仪器及实验室耗材。。上海绘吉电子科技有限公司从事分析类仪器（荧光光谱仪，质谱仪，粒度仪等分析类设备），德国普发真空设备，电池材料制备设备，实验室仪器，理化分析类仪器，微生物仪器，生理仪器及实验室耗材。上海绘吉-德国普发真空Pfeiffer Vacuum-作为的真空技术解决方案的供应商之一。我们不仅拥有全系列的混合轴承及全磁悬浮涡轮分子泵, 同时还拥有各种旋片泵，干泵，罗茨泵，氦气质谱检漏仪，真空规，四级质谱仪等产品以及真空管件和综合线年发明涡轮分子泵至今, 我们在分析、研发、镀膜、太阳能、半导体和其他工业领域，始终代表着创新的解决方案、高品质、稳定可靠的产品和的服务。公司自1890年创立至今百余年，现有将近2300名员工，20多家分公司遍布，并且在德国、法国、罗马尼亚、韩国设有生产制造基地。随着中国综合国力的提升，产业结构升级，以及对节能减排，科研和高精尖制造工艺的强烈需求，对真空技术的需求也在不断的提升。作为德国 Pfeiffer Vacuum GmbH 的全资子公司，普发真空技术上海有限公司 Pfeiffer Vacuum (Shanghai) Co., Ltd. 于 2007 年正式入驻中国上海，标志着普发真空在中国的业务已经初具规模，以及公司对中国持续增长的信心。公司现坐落于上海市浦东新区世纪公园附近，并且在江苏无锡建有 4000m2 的售后服务工厂。上海绘吉电子科技有限公司获得深圳科晶智达科技有限公司一级代理权，科晶为研究新一代可充电电池，超级电容器与快速储能材料提供最完整的成套解决方案。方案定位于锂电池的研究市场，主要为大专院校、科研院所以及生产企业提供实验室用的小型混压设备和机械加工与测试等一系列产品，提供研发环节所需的电池能源材料制备相关设备产品与成套实验室方案：“混料-烧料-分析-涂层-成型-封装-测试”设备：球磨机、高温高压炉、材料分析仪、涂层机、轧机、切片机、封装机、电池分析仪等。上海绘吉电子科技有限公司成功和进口公司合作。德国普发真空设备，德国布鲁克仪器有限公司，分析仪器有限公司，美国PE公司，美国热电仪器有限公司，天美科技有限公司，岛津，莱卡仪器，日本horriba，梅特勒等进口公司

　　Bruker公司的新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多达350毫米x350毫米的样品，将Dektak®优异的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。Dektak XTL集成气体隔震装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。

　　它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可限度提高生产量。Bruker公司的具有图形识别功能的Vision64®生产接口可满足用户需求，使数据采集成为一个自主的和可重复的过程，限度地降低操作员的变化带来的影响。

　　Dektak XTL已经针对持续生产工作时间和生产量在工艺开发和质量保证与质量控制应用方面进行了全面优化，将本产品设计为业界最易使用的探针式轮廓仪。

　　2.通过选择实时视频中的两个点快速定位样品（自动旋转使连线.通过在实时视频中点击扫描起始和结束位置简化测量设置（教学）

　　可靠的自动化设置和操作1.借助300毫米的自动化编码XY工作台以及360度旋转能力，精确编程控制无限制测量位置。

　　方便的分析和数据采集1.快速分析仪支持大部分常用分析方法，可轻松实现分析程序自动化

　　新增软件功能使Dektak XTL成为市面上大、最易使用的探针式轮廓仪。系统使用的Vision64软件,与Bruker公司的光学轮廓仪兼容。Vision64软件可以进行样品任何位置测量、3D绘图以及借助数百个内置分析工具实现的高度定制表征方法。也可以使用Vision Microform软件来测量曲率半径等形状。

　　Dektak XTL拥有超过40年的探针专业经验和软件定制生产经验，符合现在和未来的严格的行业发展蓝图。

　　300毫米高精度编码XY工作台为制造商提供可靠工具，满足严格的可重复性和再现性要求。Dektak双摄像头控制系统装有俯视摄像头以及高倍率侧视摄像头，使空间感增强；通过在视频上点击定位使操作者能够快速调整样品至正确位置，以便进行快速简单的测量设置和自动化编程。系统方便使用的连锁门使样品装载和卸载更加安全快捷。其它硬件特性包括：

　　4.N-Lite低作用力时候采用Soft Touch 技术与1mm测量范围同时使用，可进行精细、高垂直范围样品测量

　　探针式轮廓仪系统Dektak XTL技术参数软件选项:自动图形识别；高级软件界面

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